Menú secundario

Servicio de Difracción de Rayos X

Difracción de Rayos X

Responsable/s Científico/s
Dr. Concepción Real Pérez

Técnico/s
Ldo. José María Martínez Blanes

Teléfono/s
954 48 95 49

Fax
954 46 06 65

Contacto
creal@icmse.csic.es

La difracción de rayos-X permite la identificación cualitativa y cuantitativa de sustancias cristalinas y su caracterización microestructural y textural.

El servicio dispone en la actualidad de cuatro difractómetros independientes, configurados específicamente para abordar el análisis de muestras policristalinas de muy distinta naturaleza, en lo referente a su composición, estabilidad química, cristalinidad, etc. Asimismo, con alguno de ellos se pueden llevar a cabo, además de los análisis rutinarios (Θ-2Θ), otros varios mas avanzados, como pueden ser:

  • Seguir las transformaciones de fase “in situ” provocadas por calentamientos en atmósfera inerte (vacio, Ar) o reactiva (H2, O2,..)
  • Caracterizar materiales en la nanoescala (1-100 nm) mediante el estudio de la dispersión de rayos-X a ángulos bajos (SAXS)
  • Determinar el grosor, densidad y rugosidad de películas delgadas, mediante Reflectometría de rayos-X
  • Obtener la estructura cristalina de materiales inestables a la atmósfera o muy transparentes a los rayos-X, mediante el empleo de capilares

Instrumental disponible

  • Difractómetro Panalytical X'PERT PRO con cargador automático de muestras
  • Difractómetro PHILIPS X'PERT PRO con cámara de alta temperatura (1200 ºC) ANTON PAAR HTK 1200
  • Difractómetro Panalytical X'PERT PRO (reflectometría, SAXS, ángulo rasante y capilares).
  • Difractómetro de polvo SIEMENS D5000 DUAL (reflexión y transmisión)


 

Centro de Investigaciones Científicas Isla de la Cartuja. C/Américo Vespucio, 49 - 41092 Sevilla (España)
Tel.: [+34] 954489527 | Fax: [+34] 954460165 | buzon@icmse.csic.es