Difracción de Rayos X

Responsable Científico Dra. Ana Isabel Becerro Nieto (anieto@icmse.csic.es) Personal Técnico Gdo. Ángel Arias Pérez contacto ✉ difraccion@icmse.csic.es ☎ 954 48 95 45

formulario difracción RX.pdf

Formulario termodifracción.pdf

La difracción de rayos-X permite la identificación cualitativa y cuantitativa de sustancias cristalinas y su caracterización microestructural y textural. El servicio dispone en la actualidad de tres difractómetros independientes, configurados específicamente para abordar el análisis de muestras tanto policristalinas como en forma de películas delgadas. Además de los análisis rutinarios, los equipos permiten otros más avanzados que se enumeran a continuación:

• Seguimiento de las transformaciones de fase “in situ” provocadas por calentamiento en aire (Termodifracción).
• Caracterización de materiales en la nanoescala mediante el estudio de la dispersión de rayos-X a ángulos bajos (SAXS).
• Determinación del grosor, densidad y rugosidad de películas delgadas, mediante Reflectometría de rayos-X.
• Obtención la estructura cristalina de materiales inestables a la atmósfera o muy transparentes a los rayos-X, mediante el empleo de capilares.
• Análisis de las fases a nivel superficial y estudio del perfil de profundidad en muestras multicapa.
• Análisis cuantitativo de textura, mostrando la orientación preferencial de los cristales.
• Análisis de alta resolución (solo Kα 1) que facilitan el análisis de fases polimórficas y/o de baja simetría en las que la superposición de reflexiones es un obstáculo.

Instrumental disponible

• Difractómetro Panalytical X’PERT PRO con cargador automático de muestras para registro de diagramas de difracción en geometría Bragg-Brentano
• Difractómetro PHILIPS X’PERT PRO con cámara de alta temperatura (1200 ^oC) ANTON PAAR HTK 1200, y accesorios para en bajo ángulo (SAXS) y capilar
• Difractómetro Panalytical  Empyrean Alpha-1 con monocromador Johansson con posibilidad de realizar medias con radiación “solo Kα1” en geometría Bragg-Brentano