Microscopía Electrónica de Barrido

Responsable Científico Dra. Cristina T. Rojas Ruiz · Dr. Asunción Fernández Camacho Personal Técnico Dra. Mª Carmen Jiménez de Haro contacto ✉ tcrojas@icmse.csic.es · cjimenez@icmse.csic.es · asuncion@icmse.csic.es ☎ 954 48 96 25

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La microscopía electrónica de barrido proporciona información microestructural, morfológica y de composición química en escala microscópica. Se puede aplicar a todo tipo de materiales y problemáticas de estudio en ciencia de materiales: cerámicas, plásticos, metales, minerales, catalizadores, muestras de patrimonio histórico, capas finas, recubrimientos, interfases, nanopartículas, etc. El equipo SEM es un microscopio de emisión de campo de cátodo frío que permite realizar imágenes de la morfología y textura superficial de las muestras con una resolución de 1 nm a 15kV. También permite trabajar a bajo voltaje en muestras sin metalizar y en modo transmisión (STEM-in-SEM) en muestras electrón-transparentes. Acoplado al detector de rayos-X (EDX) permite análisis elementales y mapas composicionales.

Instrumental disponible

• Microscopio SEM, modelo Hitachi S4800 SEM-FEG: cañón de emisión de campo de cátodo frío y voltaje de 0.5-30 kV, resolución de 1 nm a 15kV. Dotado de analizador EDX Bruker-X Flash-4010 con una resolución de 133 eV (en la línea MnKα) y detector con portamuestras para trabajar en modo transmisión (STEM-in-SEM).
• Equipamiento adicional en el “laboratorio de preparación de muestras para microscopía electrónica”

Microscopía Electrónica de Transmisión

Responsable Científico Dra. Cristina T. Rojas Ruiz · Dra. Asunción Fernández Camacho · Dr. Miguel Anaya Martín Personal Técnico Dra. Luisa María Valencia Liñán · Lda. Olga Montes Amorín · Dª. Inmaculada Rosa Cejudo contacto ✉ tcrojas@icmse.csic.es · olga@ciccartuja.es · asuncion@icmse.csic.es ☎ 954 48 96 25

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La microscopía electrónica de transmisión es una técnica ampliamente utilizada para la caracterización estructural y química de materiales a escala microscópica y nanoscópica, proporcionando  imágenes bidimensionales de la textura de la muestra, forma y tamaño de grano y/o de partícula, grado de homogeneidad a escala microscópica, grado de cristalinidad de la muestra, identificación de fases cristalinas, e imágenes de alta resolución que identifican dominios cristalinos. El equipo está dotado de un analizador EDX para el análisis composicional. Puede aplicarse a todo tipo de materiales y campos de estudio en ciencia y tecnología de materiales trabajando sobre muestras electrón-transparentes preparadas en su caso ad-hoc para este fin. El servicio realiza microscopía en modo transmisión: Imágenes en campo claro y campo oscuro, difracción de electrones de área selecta y microscopía electrónica de alta resolución así como análisis elemental de area selecta. No se dispone de modo STEM. 

Instrumental disponible

• Microscopio JEOL 2100Plus (200kV) con filamento de LaB6. Resolución estructural de 0.14 nm entre líneas y 0.23 nm entre puntos, portamuestras de uno y dos giros. Acoplados al equipo se dispone de un sistema de análisis por Energías Dispersivas de Rayos X (EDX X-Max 80T, Oxford Instruments) y una cámara CCD (Gatan) para registro de imágenes.
• Equipamiento adicional en el “laboratorio de preparación de muestras para microscopía electrónica”

Laboratorio de Nanoscopias y Espectroscopias-LANE

Responsable Científico Dra. Cristina T. Rojas Ruiz · Dra. Asunción Fernández Camacho · Dr. Miguel Anaya Martín Personal Técnico Dra. Luisa María Valencia Liñan · Lda. Dª Olga Montes Amorín contacto ✉ tcrojas@icmse.csic.es · olga@ciccartuja.es · asuncion@icmse.csic.es ☎ 954 48 96 25

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El laboratorio LANE cuenta con un microscopio TEM de emisión de campo Tecnai F30, dotado con modo STEM, detectores HAADF y EDX y filtro de energía (GIF). Las técnicas disponibles incluyen: medidas TEM en campo claro y campo oscuro; TEM de alta resolución; difracción de electrones; análisis STEM-HAADF; análisis EDX y STEM-EDX así como EELS y STEM-EELS, incluyendo medidas puntuales, en línea y mapas composicionales; imágenes EFTEM; análisis espectro-imagen y tomografía electrónica.

Instrumental disponible

• Microscopio Tecnai G2 F30 S-TWIN de 300KV con cañón de emisión de campo. Resolución estructural de 0.2 nm entre puntos, portamuestras de uno y dos giros. Acoplados al equipo se dispone de un detector EDX Silicon Drift Detector X-Max 80T (Oxford Instruments) y un filtro de energías Gatan (GIF Quantum SE)
• Equipamiento adicional en el “laboratorio de preparación de muestras para microscopía electrónica”

Laboratorio de Preparación de Muestras para Microscopía Electrónica

Responsable Científico Dra. Cristina T. Rojas Ruiz · Dra. Asunción Fernández Camacho · Dr. Miguel Anaya Martín Personal Técnico Dra. Luisa María Valencia Liñán · Dª María Inmaculada Rosa Cejudo · Lda. Dª Olga Montes Amorín contacto ✉ tcrojas@icmse.csic.es

El laboratorio de preparación de muestras para TEM y SEM dispone de metalizador de oro, evaporador de carbón, metalizador de Cr y carbón, cortadora de disco, pulidora, “disc-grinder”, cortadora ultrasónica, pulidora cóncava (dimple) y adelgazador iónico (Fischione 1010).